База данных: Книги
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.

Подробнее
З844
П 781
Физико-технологический институт (Москва).
Труды ФТИАН / Российская академия наук, Физико-технологический институт. - Москва : Наука, 1991 - . - 24 см.
Т. 8 : Проблемы микроэлектронной технологии / ответственный редактор тома А. А. Орликовский. - 1994. - 126, [2] с. : ил., граф. - Библиография в конце статей. - 365 экз. - ISBN 5-02-007030-0 : 900 р.
ББК З844
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- макроэлектроника -- наноэлектроника -- пространственное сканирование
Доп.точки доступа:
Орликовский, А. А. \ред.\
Российская академия наук
Физико-технологический институт(Москва)
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
П 781
Физико-технологический институт (Москва).
Труды ФТИАН / Российская академия наук, Физико-технологический институт. - Москва : Наука, 1991 - . - 24 см.
Т. 8 : Проблемы микроэлектронной технологии / ответственный редактор тома А. А. Орликовский. - 1994. - 126, [2] с. : ил., граф. - Библиография в конце статей. - 365 экз. - ISBN 5-02-007030-0 : 900 р.
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- макроэлектроника -- наноэлектроника -- пространственное сканирование
Доп.точки доступа:
Орликовский, А. А. \ред.\
Российская академия наук
Физико-технологический институт(Москва)
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
2.

Подробнее
З844
П 781
Проблемы микроэлектронной технологии / Российская академия наук, Физико-технологический институт ; ответственный редактор тома Л. В. Великов. - Москва : Наука, 1994. - 75, [3] с. : ил., граф., табл. - (Труды ФТИАН ; т. 7). - Библиография в конце статей. - 390 экз. - ISBN 5-02-007019-X : 1350 р.
ББК З844.1
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- макроэлектроника -- наноэлектроника -- пространственное сканирование
Доп.точки доступа:
Великов, Л. В. \ред.\
Российская академия наук
Физико-технологический институт
Российская академия наук
Физико-технологический институт(Москва)
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
П 781
Проблемы микроэлектронной технологии / Российская академия наук, Физико-технологический институт ; ответственный редактор тома Л. В. Великов. - Москва : Наука, 1994. - 75, [3] с. : ил., граф., табл. - (Труды ФТИАН ; т. 7). - Библиография в конце статей. - 390 экз. - ISBN 5-02-007019-X : 1350 р.
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- макроэлектроника -- наноэлектроника -- пространственное сканирование
Доп.точки доступа:
Великов, Л. В. \ред.\
Российская академия наук
Физико-технологический институт
Российская академия наук
Физико-технологический институт(Москва)
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Страница 1, Результатов: 2